4X100GE DR4 分支测试

随着互联网内容提供商推动其超大规模数据中心,这对带宽提出了更高的需求,但是供电和机架空间是有限的,网络设备制造商因此继续寻找方法,在不显著增加设备占用空间的情况下提高端口密度。例如,NEM 正在利用不断出现的更小封装的 400GE 光模块(如 QSFP-DD),向后兼容更低速率封装的可插拔模块。它们还支持更节省空间的新型光学接口,如 DR4 (IEEE 802.3 bs,将 400GE 带宽以光学方式分割为 4 个独立的 100GE 信号,可连接到另一端的 4 个独立的 100GE QSFP28 端口)。与具有 128 个 100GE QSFP28 端口的交换机当前占用的机架空间相比,配备 32 个 QSFP-DD 的网元可以配置为在更合理的空间内承载 128 个 100GE 信号。

QSFP-DD 模块测试

QSFP-DD 光模块是 400G 客户侧接口的主流封装规格。本白皮书为模块开发人员、网络元件制造商和最终用户分享了 QSFP-DD 模块成功测试、故障排查和验证的关键因素。
客户侧接口速度稳步增长,典型的速率每十年至少增加十倍。100GE 已经通过 QSFP28 接口广泛部署,我们正处于 400G 部署的早期阶段。作为 2017 年 12 月正式标准化的 802.3.bs 的一部分,IEEE 开发了 400G 以太网客户侧接口标准。早期采用者使用的是 CFP8封装规格,但更广泛的市场关注的是 QSFP-DD,它允许与广泛采用的 QSFP28 实现一定程度的向后兼容。

FPGA、CPU和DSP电源序列验证方案

为FPGA或CPU等复杂的电子元件供电时,需要根据特定顺序以及延迟或上升时间启用多个电源电压。必须将电源消耗降至最低,并确保I/O在上电时处于高阻状态。通常建议断电顺序需与上电顺序相反。如果不按序操作,电流会超出指定阈值,可能会造成组件故障或损坏。在电路设计过程中,必须捕获并分析多个电压在电源启动、关闭和故障期间的相关特性。

PCIe 5.0 全协议栈验证

协议分析器是一个通用的 PCI Express 工具,用于总线吞吐量和链路性能测量以及数据包监控和记录。
干扰器可以操纵实时流量来实时模拟错误。
PCI SIG定义了练习器,用于测试和验证PCIe设备(CPU、交换、桥接和终端)是否符合标准。PCIe练习器生成与PCIe兼容的数据流和数据包,并可以适当地响应被测设备(DUT)—模拟真实的PCI设备

PCIe5.0电气测试—电气子层和逻辑子层

PCIe测试的关键设备包括误码率测试仪(BERT)和实时示波器。特别是PCIe5.0测试,要求使用高质量BERT的脉冲码型发生器(PPG)和BERT的误码分析仪(ED)。PPG需要能精确生成特定损耗的信号,ED应能够分析SerDes输出误码率(BER)以确定待测件是否符合PCIe规范。

PCIe5.0 信道损耗特性测试

信道是PCI Express系统中的关键要素。通道中有许多失真来源,它们会降低从 PCIe发射机到PCIe接收机的信号质量——包括串扰、抖动、符号间干扰(ISI)等等。必须测量信道中的损耗特征,确保它们处在PCIe对特定数据速率的容限范围之内。散射参数(S参数)可以表征高频电路,比如 PCIe 系统中的信道。使用矢量网络分析仪可以帮助快速验证设计中的各种参数,确保它们符合 PCIe 规范的性能要求。

400G光模块芯片测试方案

光模块芯片的频域测试,是测量和评估光模块芯片频域带宽、反射、群延时等特性的关键测试步骤,是晶片在片测试、器件封装测试等工艺流程中的必须工序。

测试可插拔相干光模块

本 VIAVI 白皮书介绍了可插拔相干光模块,以及为 100G 及更高带宽成功开发、验证和部署可插拔相干光模块所需的测试以及验证挑战和方法。

光信号调理实现相干模块测试

作者:VIAVI Solutions 高级产品经理 Matthew Adams
在设计和制造过程中,需要对各种物理层参数进行性能验证。这些测试是由一类称为可编程信号调理元件的测试仪器实现的。这些仪器单独或成组地以稳定、可重复和可适应的方式模拟光纤链路的物理参数。