描述
SX-R 20-1 3-1
型磁场探头尺寸小,用于高分辨率测量高频磁场,因而能够识别出作为潜在干扰源的较小元件。此外,由于探头尺寸小,适于测量很难靠近的位置,例如集成电路引脚的周围区域。
技术参数
频率范围 | 1 GHz … 20 GHz |
探头尺寸 | ≈ 6×6 mm |
输出接口 | SMA, female, jack |
SX-R 20-1 3-1型磁场探头尺寸小,用于高分辨率测量高频磁场,因而能够识别出作为潜在干扰源的较小元件。
SX-R 20-1 3-1
型磁场探头尺寸小,用于高分辨率测量高频磁场,因而能够识别出作为潜在干扰源的较小元件。此外,由于探头尺寸小,适于测量很难靠近的位置,例如集成电路引脚的周围区域。
频率范围 | 1 GHz … 20 GHz |
探头尺寸 | ≈ 6×6 mm |
输出接口 | SMA, female, jack |