描述
SuperLight SL-801光缆组件自动化测试系统主要用于光缆组件的插入损耗IL、回波损耗RL和线缆长度测试，也可用于光缆故障点探查以及光缆内不同光纤芯线的异常比较分析。不同于传统的电信光缆测试，此系统专门为测试短距离光纤而设计，针对的测试对象为定制光缆组件，这些光缆组件广泛应用于飞机、火车、潜艇、车辆等内部布线。系统同时可兼顾生产线生产测试和现场验证和故障排查。
SL-801光缆组件自动化测试系统由高分辨率光时域反射仪和多通道光开关构成。与传统光时域反射仪不同，高分辨率光时域反射仪的空间分辨率可达到分米级，是测试短光纤的关键因素。多通道光开关完成光通路切换任务，采用机械式光开关，具有极好的插损稳定性和开关重复性。对于相同被测件，较传统光源、光功率计方法的测试系统体积更小，功能更丰富，增加了回损和长度测试，具有探查光缆畸点的能力。
全自动测试
对于多芯光缆组件，无需拆线换芯操作，安装一次即可完成全部测试。系统可监听测试数据中心下发的测试任务，并自动按照下发任务执行测试，保存结果、制作测试报告，并回送到测试数据中心，做到全流程自动化。
- 可监听下发的测试任务。系统具备监听接口，监听字段可定制。
- 自动测试，全流程自动化。监听测试任务，执行测试，保存结果和制作报告，数据回送测试中心，全程自动化。
- 对接生产线物料数据库。直接提取数据库中物料属性作为分析参数。
完整的测试线缆数据库
SL-801测试系统对接生产线物料数据库，可创建、读取、修改物料数据，包括工装光缆、延长尾缆数据，被测件的标准件数据，以及判定标准库。
- 可创建、修改、读取线缆数据库。
- 提取数据库中线缆参数，作为测试的配置信息。
- 判定标准库。可根据国际标准、国家标准、行业标准、自定义标准等建立判定条件，以自动判定“合格/不合格”。
独立的手动测试
SL-801测试系统也支持独立的手动测试。手动设定测试条件，执行测试，根据需要选择测试结果，制作报告，结果和报告本地保存，便于检索和筛选结果。整个系统可快速并入工厂的测试系统，又可独立运行，执行现场测试任务。甚至光纤测试主机可快速从测试系统中脱离，以完成单机测试工作。
- 手动测试。手动设定测试参数，执行测试获取结果和报告。
- 执行现场测试。系统体积小，可移动，采用抗震机箱。
- 测试主机可脱离系统，单机测试。
灵活的多用户登录
SL-801测试系统采用B/S架构，网络浏览器模式，操作者通过网络登录系统，无需安装控制程序。支持多用户登录，在任何PC终端均可发起测试，下载测试报告。测试员不再被限制在测试现场，任意场所均可发起测试。
超级管理员具有最高的使用权限，可建立测试系统的组织架构，并可指定普通用户所在组织架构层级，授权普通用户的使用权限。
移动式箱体结构，便于转运安装
整个系统采用了移动式箱体结构，可快速倒换测试场地，适用工厂生产线和现场场站等多测试场景。机箱内部采用抗震、抗压的缓冲式机架结构，以更好的应对运输、现场安装、外力施加等情况。
技术参数
系统机架箱
- 箱体材质：线性低密度聚乙烯（LLDPE）
- 工序：滚塑
- 减震器：8个
- 机架高度：最小10U，可定制
- 颜色：可定制
- 防水等级：IP65
- 箱盖上有无轮子：有
- 供电：220V，50/60Hz
测试报告：
1、MIL-STD-810F 512.4 （联邦测试标准浸水测试）
2、MIL-STD-810F 514.5（美联邦测试方法振动测试标准）
3、FED-STD-101C （美联邦测试方法低温跌落标准）
4、ATA300 （航空运输协会标准落锤冲击）
5、ASTMIP65 （IP防水防尘防护等级）
6、ASTMB4169.DC-18 （美国材料试验协会雨淋测试）
7、STANAG4280 （北约防水防潮标准协议）
高分辨率光时域反射仪
| 常规 | |
| 重量 | 3.8 千克（8.5 磅） |
| 尺寸 | 290 x 188 x 97 毫米（11.5 x 7.4 x 3.8 英寸） |
| 显示屏 | 8 英寸 TFT 高可见性彩色触摸屏，800 x 600 LCD |
| 内存 | 2 GB（128 MB 用于存储） |
| I/O 接口 | 2 个 USB 2.0 端口 1 个微型 USB 2.0 端口 RJ45 LAN 10/100/1000 Mbps 1 个 RS422 接口 |
| 环境 | |
| 工作温度范围 | −10℃ 至 +45℃ （14℉ 至 113℉） |
| 湿度 | 0 至 95% 非冷凝 |
| 高分辨率光时域反射仪 | |
| 光纤类型 | 50/125μm |
| 光接口 | FC/PC |
| 激光安全等级 (21 CFR) | 1 级 |
| 距离单位 | 千米、米、英尺、英里、英寸 |
| 群折射率范围 | 1.300000 至 1.700000（步长为 0.00001） |
| 采样数据点数 | 最多 256000 个数据点 |
| 距离测量 | 自动或双光标 |
| 显示范围 | 0.05 至 10 千米 |
| 光标分辨率 | 1 厘米 |
| 采样分辨率 | 2 厘米 |
| 距离精度（相对） | ±0.1米 ± 采样分辨率 ± 1×10−5 x 距离（不考虑群折射率引起的不确定性） |
| 衰减测量 | |
| 自动、手动、2 点法、5 点法和 LSA | |
| 显示分辨率 | 0.001 dB |
| 光标分辨率 | 0.001 dB |
| 线性度 | ±0.05 dB/dB |
| 阈值 | 0.01 至 1.99 dB（步长为 0.01 dB） |
| 反射/光回损测量 | |
| 反射准确度 | ±2 dB |
| 显示分辨率 | 0.01 dB |
| 阈值 | −11 至 −99 dB（步长为 1 dB） |
| RDZ-SLM OTDR 应用程序 | |
| 中心波长1 | 850 +10/−30纳米 |
| 动态范围2 | 16 dB |
| 脉冲宽度 | 1 纳秒 |
| 事件盲区3 | 0.2 米 |
| 衰减盲区4 | 0.4 米 |
| Expert OTDR 应用程序 | |
| 中心波长1 | 850 +10/−30 纳米；1300 ±20 纳米 |
| 动态范围2 | 24/24 dB |
| 脉冲宽度 | 1 纳秒至 50 纳秒 |
| 事件盲区3 | 0.2/0.25 米 |
| 衰减盲区4 | 1.5/2.1 米 |
- 激光器工作在 25℃ 时，以 10 微秒脉宽测量。
- 光纤起点处的外推反向散射电平与 RMS (SNR=1) 噪声电平（使用最大脉冲宽度求 30 秒均值后）之间的单向差值。
- 使用最短脉冲宽度在非饱和反射事件的峰值以下 ±1.5 dB 处测量。
- 使用 −35 dB 反射和最短脉冲宽度，在线性回归 ±0.5 dB 处测量。
光开关
| 参数1 （多模OM3） | |||
| 波长范围2 | 760 至 1360 纳米 | ||
| 插入损耗 (IL)3 | 0.9 dB | ||
| 回波损耗 (RL)4 | 40 dB | ||
| 偏振相关损耗 (PDL)5 | 0.04 dB | ||
| 重复性6 | |||
| 顺序开关 | ±0.005 dB | ||
| 随机开关 | ±0.025 dB | ||
| IL 稳定性7（最大） | ±0.025 dB | ||
| 串扰（最大） | –60 dB | ||
| 最大输入功率（光学） | 300 mW | ||
| 生命周期 | 1 亿次切换循环 | ||
| 切换时间 | ≤ 24 个端口 | >24 个端口 < 72 | >72 个端口 |
| 机电（断开至闭合） | 20+10*(N–1) 毫秒 | 55+30*(N–1) 毫秒 | 35+11*(N–1) 毫秒 |
| 达到 90% 最终 IL 的稳定时间 | 60 毫秒 | 70 毫秒 | 90 毫秒 |
| 达到 99% 最终 IL 的稳定时间 | 90 毫秒 | 120 毫秒 | 200 毫秒 |
| 工作温度 | 0℃ 至 50℃ | ||
| 工作湿度 | 15 至 80% RH，0℃ 至 40℃ 非冷凝 | ||
| 存储温度 | –30℃ 至 60℃ | ||
- 所有光学测量（不包括连接器），在温度已稳定至少一小时后进行，环境室温介于 20–30℃，变化不超过 ±3℃。
- 适用于符合 ISO/IEC 11801 标准的 OM1 和 OM3 光纤类型。
- 不包括连接器；对于SM，在1310和1650纳米处测试，对于MM（包含符合 IEC 62614 ED1.0 2010标准的EF），在850和1300纳米处测试。
- RL（不包括连接器，尾纤长度为 2 米）；对于 SM，在 1310 和 1625 纳米处测试，对于 MM（包含符合 IEC 62614 ED1.0 2010 标准的 EF），在 850 和 1300 纳米处测试。
- 在 1310 和 1650 纳米处测试的 PDL。
- 在超过 100 次循环的两个连续读数之间测得。
- 7 天（168 小时）内环境温度偏差为 ±3℃的条件下，相对于参考通道的任何通道漂移。
订货信息
SL-801-XX-YY
XX：通道数量：24、36、48、72、C数字（定制：如C12，为12通道）
YY：机架形式：01-无机架；02-可移动机柜；03-可移动抗震机架箱
订货示例：
- SL-801-36-03：36通道光缆组件测试系统，带可移动抗震机架箱
- SL-801-C144-02：定制144通道光缆组件测试系统，带可移动机柜
